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日期:2019-11-21瀏覽:2817次
鐵電薄膜鐵電性能——電滯回線的測量方法選擇
目前,測量電滯回線的方法較多。其中測試方法簡單、應用廣泛的是Sawyer-Tower電路,如圖所示,其中虛框部分為鐵電薄膜樣品的等效電 路,Cxi為線性感應等效電容,Rx為鐵電薄膜樣品的 漏電導及損耗等效電阻,Cxs為與自發(fā)極化反轉(zhuǎn)對應的非線性等效電容。
Sawyer-Tower電路
在理想情況下,若只考慮Cxs的作用(認為Cxi與Rx開路),很容易證明Uy與鐵電薄膜樣品的極化強度P成正比。但一般情況下,鐵電薄膜樣品同時具有漏電導和線性感應電容,如果要獲得鐵電薄 膜樣品的木征電滯回線,必須在測貴過程中對樣品的漏電導和線性感應電容進行合適的補償,但這在實際測中是較難處理的。另外,此電路中外接積分電容Co的選取和精度會影響測試的度,當然給鐵屯薄膜樣品提供的信號源U的頻率對測試結(jié)果也有很大的影響,這樣就較難對測試結(jié)果進行標定和校準。
我們選用如下圖所示的測量電路,此電路由信號源U、被測樣品、電流放大器和積分器組成。信號源U提供給被測樣品的電流經(jīng)電流放大器放大再經(jīng)積分器積分后得到Uy進入測量系統(tǒng)。即使被測樣品端加的電壓U為零,積分器上仍然維持電壓,被測樣品端是虛地的,因此,此測試電路討稱為虛地模式。此電路取消了外接電容Co,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容C1的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測貴度。
電滯回線測量電路