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數(shù)字式四探針測試儀的設備保養(yǎng)與注意事項

日期:2021-04-30瀏覽:1910次

  HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
 
  儀器由主機、探針測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由四探針測試儀主機直接顯示,亦可與計算機相連接通過四探針軟件測試系統(tǒng)控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。
 
  儀器采用了*電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。
 
  設備保養(yǎng):
 
  經常保持設備和計算機的清潔、衛(wèi)生。
 
  預防高溫、過濕、灰塵、腐蝕性介質、水等浸入機器或計算機內部。
 
  定期檢查,保持零件、部件的完整性。
 
  注意事項:
 
  1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書,規(guī)范操作
 
  2、輕拿輕放,避免儀器震動,水平放置,垂直測量
 
  3、儀器不使用時請切斷電源,連接線無需經常拔下,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象
 
  4、探針筆測試結束,套好護套,避免人為斷針
 
  本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

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