服務(wù)熱線
010-86460119
歡迎訪問北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司網(wǎng)站
日期:2021-09-26瀏覽:1297次
可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能,參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,提高測(cè)試參數(shù)的精確度,同時(shí)抗干擾力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
高溫四探針測(cè)試儀的測(cè)量原理:
測(cè)量電阻率的方法很多,如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等,四探針法則是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法,高溫四探針測(cè)試儀采用經(jīng)典直排四探針原理,同時(shí)采用了雙電測(cè)組合四探針法。
經(jīng)典的直排四探針法測(cè)試電阻率,要求使用等間距的探針,如果針間距離不等或探針有游移,就會(huì)造成實(shí)驗(yàn)誤差。當(dāng)被測(cè)片較小或在大片邊緣附近測(cè)量時(shí),要求計(jì)入電場(chǎng)畸變的影響進(jìn)行邊界修正。
采用雙電測(cè)組合四探針的出現(xiàn),為提高薄膜電阻和體電阻率測(cè)量度創(chuàng)造了有利條件。
高溫四探針測(cè)試儀采用雙電測(cè)組合四探針法的優(yōu)勢(shì):
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
華測(cè)儀器--致力于材料電學(xué)測(cè)試技術(shù)