半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-11-02

產(chǎn)品簡介：

半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng)，小型探針臺最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試；
可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測

Huace-4S小型探針臺

產(chǎn)品簡介：

探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），精準扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

產(chǎn)品特點及應(yīng)用：

◆ 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；

◆ 可用于6英寸以內(nèi)樣品測試；

◆ 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動；

◆ 可放置于手套箱內(nèi)使用；

◆ 形狀輕巧，操作方便，價格實惠。

Huace-4S小型探針臺技術(shù)參數(shù)：

臺體規(guī)格
尺寸	4英寸/6英寸
水平旋轉(zhuǎn)	可360°旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15°，精度0.1°，帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程	4英寸×4英寸
X-Y移動精度	10μm
樣品臺Z軸調(diào)節(jié)	可升降10mm
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺	U型針座平臺，**可放置6個探針座
背電極測試	樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸	400mm長400mm寬500mm高
設(shè)備重量	約20KG

光學系統(tǒng)
顯微鏡類型	單筒顯微鏡/體式顯微鏡
放大倍率	16X-200X
移動行程	水平方向繞立柱360°旋轉(zhuǎn)，Z軸50.8毫米
光源	外置LED無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源
CCD	200萬像素/500萬像素/1200萬像素

定位器
X-Y-Z移動行程	12mm12mm12mm
移動精度	10μm/2μm/0.7μm/0.5μm
吸附方式	磁力吸附，真空吸附
線纜	同軸線/三軸線
漏電精度	10pA/100fA/10fA
固定探針	彈簧固定/管狀固定
接頭類型	BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑	0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm
針尖材質(zhì)	鎢鋼；鈹銅

可選附件：

加熱臺；
顯示器；
轉(zhuǎn)接頭；
射頻測試配件；

屏蔽箱；

光學平臺；
鍍金卡盤；
光電測試配件；

探針臺可根據(jù)客戶要求定制

公司主營產(chǎn)品：

幾大系列：功能材料電學綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。

半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng)