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基礎信息Product information
產(chǎn)品名稱:

華測高溫鐵電測試儀-

產(chǎn)品型號:HCTD-800

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-06-07

產(chǎn)品簡介:

華測高溫鐵電測試儀-用于鐵電體的鐵電性能測量,。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測

華測高溫鐵電測試儀-

產(chǎn)品名稱:華測高溫鐵電測試儀-

產(chǎn)品型號:HCTD-800

品牌:北京華測

產(chǎn)品介紹

本測試儀用于鐵電體的鐵電性能測量,。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量度,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計,實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。

鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關特性,可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值??蓽y鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發(fā)生器、高壓信號發(fā)生器使用。



產(chǎn)品特點

  • 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)

  • 鐵電疲勞性能測量

  • 鐵電保持性能測量

  • 電阻測量

  • 漏電流測量

  • 高的精度三維移動平臺



軟件功能

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導體、半導體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性與安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復,兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面;

即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無需等待;

圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);

使用權(quán)限:可設定使用者的權(quán)限,方便管理;

故障狀態(tài):軟件具有設備的故障報警功能。



硬件支持

  • 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器

  • 集成打印機接口,可擴充8USB接口

  • 可支持16G內(nèi)存,60G固體硬盤,讓系統(tǒng)運行流暢。



應用領域

  • 鐵電材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流等特性。

  • 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。

  • 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。



技術參數(shù)

1、電壓范圍:±30V(可擴展至±4KV)

2、輸出電流峰值:±1A

3、大負荷電容:1μF

4、動態(tài)電滯回線測試頻率:0.001Hx~100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試:10pA~100mA

6、小脈沖寬度:25ns

7、上升時間:7ns

8、極化測試精準到:10fC

9、塊體材料樣品盒可進行室溫~1200℃電滯回線測定




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